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  • ZETA電位測試及納米微米粒度檢測

    • 國家
      英國馬爾文
    • 型號
      ZEN3600
    • 測試項目
      納米微米粒度分布及Zeta電位測試
    • 樣品要求
      粉末需要制成液體,塊體樣不能測試
    zeta電位測試理論解析


    ZETA電位是一個表征分散體系穩定性的重要指標,是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。分子或分散粒子越小,Zeta電位(正或負)越高,體系越穩定,即溶解或分散可以抵抗聚集。反之,Zeta電位(正或負)越低,越傾向于凝結或凝聚,即吸引力超過了排斥力,分散被破壞而發生凝結或凝聚。由于帶電微粒吸引分散系中帶相反電荷的粒子,離顆粒表面近的離子被強烈束縛著,而那些距離較遠的離子形成一個松散的電子云,電子云的內外電位差就叫作Zeta電位。

    ● 制樣要求:

    不同PH值下對應的樣品濃度,需要標注清楚,客戶自己配比樣品;

    樣品用量:10ml-20ml;粉末樣:15-20毫克;

    示意如下:

    ●  具體參數:

    光源: 4mW He-Ne,633nm;

    樣品濃度范圍: 0.001%-40%(w/w) ;

    Zeta電位測量范圍:ph值1-12對應的不同濃度;
     

    用于膠體、納米材料及生物大分子溶液的粒度、Zeta電位及分子量的測量,用于表征和評判各種體系的粒徑分布、分子量大小以及體系穩定性。

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