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  • 波長型X射線熒光光譜測試-XRF測試-

    • 國家
      荷蘭帕納科
    • 型號
      Zetium
    • 測試項目
      定性半定量分析元素范圍F—U。
    • 樣品要求
      1.粉末:提供1g以上,或按體積裝實2ml以上樣品量。過200目,樣品干燥。 2.塊體、薄膜:直徑在12-50mm(推薦32-50mm)之間,高度低于10mm,測試面平整、不掉粉。

    主要規格:

    采用LiF200、Ge111、PE002、PX1、LiF220晶體,優化準直器,超薄50um鈹窗,4KW端X光管,配備流氣探測器、Hiper高能閃爍探測器、Deplex復合探測器,以及6位置面罩轉換器(適合尺寸10-37mm樣品),68位自動進樣器。提高了分析元素的靈敏度,保證了測量數據的高重現性。

     

    原理方法:

    試樣中的原子受到適當的高能輻射激發,放射出該原子所具有的特征X射線,其強度大小與試樣中該元素的質量分數成正比。通過測量特征X射線的強度來定性定量分析試樣中各元素的質量分數。
     

    技術指標:

    4KW端X光管/50um鈹窗/5塊晶體/3塊準直器/4塊濾光片。分析濃度范圍從ppm至100%,SuperQ軟件下,Omnian、Stratos等多種數據分析方法。

     

    應用范圍:

    對固體、粉末及液體樣品進行定性及無標樣Omnian半定量分析,可對礦物、半導體、金屬、水泥、石化產品進行快速定性半定量分析,可測元素范圍從9F—92U,測定含量范圍從ppm至100% 。
     
     

    樣品要求:

    1.粉末樣品:提供1g以上,或按體積裝實2ml以上樣品量。過200目,樣品干燥。
    2.塊體、薄膜樣品:直徑在12-50mm(推薦34-50mm)之間,高度低于20mm,測試面平整、不掉粉。
     

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