SEM測試場發射掃描電鏡測試

• 國家

  美國
• 型號

  德國Sigma 500/美國FEI·F50
• 測試項目

  固體樣品的微觀形貌、結構，樣品的微區元素成份及線分布、面分布能譜
• 樣品要求

  樣品高度小于15mm，直徑小于30mm， 若樣品不導電，請告知是否需要進行鍍金處理； 樣品不能含水分；有磁性（含有Fe、Ni、Co任一種元素）請提前告知。